供应高性价比进口探针测试台供应商，失效分析测试探针台

型号:CH-8
分析探针台


特征描述：

舒适大手柄驱动CHUCK

可以升级做射频测试

20X~4000X 光学显微放大

无后座力移动

针座平台可以快速升降便于wafer取放

针座平台可以微调升降便于探针卡再定位
 


规格参数：

真空吸附型Chuck ：8" 不锈钢

Chuck X-Y轴行程 ：8" x8"

Chuck 旋转角度： 0~360 度
 
针座平台上下粗调行程 ：6mm   通过升降杆调整

针座平台上下细粗行程： 25 mm 通过旋转手轮

针座平台 ：可以放置8个针座

显微镜X-Y轴行程 ：2" x2"

需求：电力 220 VAC, 60Hz       真空 -250 mmHg, 7 liter/min

尺寸：840mm长 x 660mm宽 x 700mm高(带显微镜)

重 ：180 Kg(带显微镜)



使用说明：

1、将样品载入真空卡盘，开启真空阀门控制开关，使样品安全且牢固地吸附在卡盘上。
 
2、使用卡盘 X 轴/Y 轴控制旋钮移动卡盘平台，在显微镜低倍物镜聚焦下看清楚样品。
 
3、使用卡盘 X 轴/Y 轴控制旋钮移动卡盘平台将样品待测试点移动至显微镜下。
 
4、显微镜切换为高倍率物镜，在大倍率下找到待测点，再微调显微镜聚焦和样品 x-y，将影像调 节清晰,带测点在显微镜视场中心。
 
5、待测点位置确认好后,再调节探针座的位置,将探针装上后可眼观先将探针移到接近待测点的 位置旁边,再使用探针座 X-Y-Z 三个微调旋钮,慢慢的将探针移至被测点,此时动作要小心且缓 慢，以防动作过大误伤芯片，当探针针尖悬空于被测点上空时，可先用 Y 轴旋钮将探针退后少许，再使用 Z 轴旋钮进行下针，较后则使用 X 轴旋钮左右滑动，观察是否有少许划痕，证明是 否已经接触。
 
6、确保针尖和被测点接触良好后，则可以通过连接的测试设备开始测试。