型号:CB-80 RF射频探针座 特征: 线性移动 亚微米工艺集成电路电路测试 I/O Pad 点测 RF射频测试 电路点测 较小的体积 可以配合同轴/三轴探针夹具使用 规格参数: X-Y-Z移动行程:12 x 12 x 12mm 线性移动/丝杠精度:100 Thread / Inch 移动精度:0.7 微米 搭配RF高频探针(GS SG GSG) 固定方式:磁性吸附(真空吸附可选) 尺寸:112宽 x 86长 x 108mm高 重 :680 克 使用说明: 旋转探针座上的微调按钮,可以让探针与半导体(所测的对象)接触良好,达到较终想要的结果,主要起到调节作用。