中国台湾进口0.7微米射频探针座

型号：CB-80  RF射频探针座
 
特征：
线性移动 
 
亚微米工艺集成电路电路测试
 
I/O Pad 点测
 
RF射频测试
 
电路点测
 
较小的体积
 
可以配合同轴/三轴探针夹具使用
 
 
 
规格参数：
 
 
X-Y-Z移动行程：12 x 12 x 12mm
 
线性移动/丝杠精度：100 Thread / Inch
 
移动精度：0.7 微米
 
搭配RF高频探针（GS SG GSG）
 
固定方式：磁性吸附（真空吸附可选）
 
尺寸：112宽 x 86长 x 108mm高
 
重 ：680 克
 
 
使用说明：
 
旋转探针座上的微调按钮，可以让探针与半导体（所测的对象）接触良好，达到较终想要的结果，主要起到调节作用。